Home Studii Cursuri
Testare si testabilitate PDF Imprimare Email
Vineri, 30 Ianuarie 2009 10:12
Codul disciplinei DIS404M
Numar credite 6
Specializarea
Microelectronica, optoelectronica si nanotehnologii
Obiective
Prezentarea modelelor de defecte logice utilizate in tehnologiile actuale. Prezentarea tehnicilor de simulare a defectelor si de generare a testelor. Prezentarea metodelor de testare a circuitelor. Prezentarea tehnicilor de proiectare pentru testabilitate.
Descriptori Defecte logice, defecte fizice. Detectia si localizarea defectelor. Generarea testelor. Simularea defectelor. Acoperirea defectelor. Redundanta. Testare compacta. Semnatura. Scanare. Arhitecturi Bilt-In Self-Test.
Documente
Fisa disciplinei | Programa analitica
Resurse Internet
Pagina cursului | Moodle
Titular
Conf.dr.ing. Damian Imbrea (curs, laborator)

Ultima actualizare în Miercuri, 16 Septembrie 2009 12:56